原標(biāo)題：奧林巴斯超聲波相控陣探傷儀的五大技術(shù)優(yōu)勢(shì)

　　奧林巴斯超聲波相控陣探傷儀,憑借優(yōu)良的性能和高效的檢測(cè)速度,獲得了行業(yè)內(nèi)外用戶的一致好評(píng), 稱得上便攜探傷儀界口碑俱佳的“天花板”,妥妥地?zé)o損檢測(cè)行業(yè)新神器。其中,奧林巴斯OmniScan系列探傷儀更是便攜式相控陣超聲檢測(cè)(PAUT)的模范標(biāo)桿。今天我們就以O(shè)mniScan X3全聚焦相控陣探傷儀為例,為你解密奧林巴斯超聲波相控陣探傷儀五大技術(shù)優(yōu)勢(shì)。

　　比起入門級(jí)的探傷儀,OmniScan X3 靠著強(qiáng)大的檢測(cè)能力和高度的靈活性,還有在各種檢測(cè)場(chǎng)景挑戰(zhàn)中的出色表現(xiàn),成為奧林巴斯相控陣系列核心產(chǎn)品之一。它是一款功能齊備的相控陣工具箱,獨(dú)特創(chuàng)新的TFM全聚焦模式,在面對(duì)焊縫、管道、壓力容器、復(fù)合材料檢測(cè)等各種高難度檢測(cè)任務(wù)時(shí),都能提供適用的功能。當(dāng)然,它能成為超聲波相控陣探傷儀“天花板”的核心秘密,不止如此,還與它獨(dú)特的五大技術(shù)優(yōu)勢(shì)密不可分!

　　技術(shù)優(yōu)勢(shì)一:清晰鮮明的實(shí)時(shí)全聚焦方式包絡(luò)處理

　　奧林巴斯OmniScan X3超聲波相控陣探傷儀獨(dú)特的包絡(luò)處理功能,為缺陷生成高清全聚焦方式圖像,讓缺陷一目了然。這些圖像缺陷在背景噪聲的襯托下,也會(huì)顯得更為清晰。

　　技術(shù)優(yōu)勢(shì)二:4種模式全聚焦方式圖像,助攻缺陷的解讀和定量

　　OmniScan X3探傷儀最多同時(shí)顯示4種模式的全聚焦方式圖像,讓用戶看到不同聲束模式生成的圖像,綜合在一起進(jìn)行分析,從而可以確認(rèn)缺陷的類型,并提高缺陷定量的性能。在同一個(gè)檢測(cè)中使用不同的全聚焦方式模式,可以讓檢測(cè)人員更有希望探測(cè)到方向異常的缺陷指示,提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。

　　技術(shù)優(yōu)勢(shì)三:提前確認(rèn)覆蓋區(qū)域

　　OmniScan X3超聲波相控陣探傷儀可過(guò)聲學(xué)影像圖工具消除了掃查計(jì)劃創(chuàng)建過(guò)程中的可能因素,通過(guò)屏幕上顯示某個(gè)聲波組的效果圖,看到靈敏度消失的位置,并對(duì)掃查計(jì)劃進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整,提前確認(rèn)區(qū)域,幫助確認(rèn)缺陷位置。

　　技術(shù)優(yōu)勢(shì)四:相控陣技術(shù)升級(jí),加快工作流程

　　OmniScan X3的最大脈沖重復(fù)頻率是MX2探傷儀的3倍,改進(jìn)的快速相控陣校對(duì),減少了重新掃查的需要。搭配的機(jī)載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能,更是加速了創(chuàng)建設(shè)置的過(guò)程。

　　技術(shù)優(yōu)勢(shì)五:簡(jiǎn)化步驟,性能可靠

　　在保留了OmniScan系列熟為人知的界面基礎(chǔ)上,OmniScan X3減少了設(shè)置和分析所需的步驟,讓操作更加簡(jiǎn)潔。無(wú)論是新老用戶,都能輕松上手,快速投入到檢測(cè)工作中。

　　除了這五大技術(shù)上的優(yōu)勢(shì)外,奧林巴斯超聲波相控陣探傷儀OmniScan X3校準(zhǔn)菜單可以高速跟蹤信號(hào),檢測(cè)人員可以在幾分鐘之內(nèi)簡(jiǎn)單輕松地完成多組校準(zhǔn)。更有高達(dá)25G的存儲(chǔ)空間,可以存放大量圖像而無(wú)需頻繁進(jìn)行導(dǎo)出,新增了奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng)的無(wú)線更新功能,從而確保內(nèi)部軟件的實(shí)時(shí)更新,讓使用者更加省心。

　　看到這里,你是不是更心動(dòng)啦!不僅如此,奧林巴斯作為超聲波相控陣探傷儀OmniScan X3,更是不斷用科技賦能無(wú)損檢測(cè),引領(lǐng)行業(yè)發(fā)展的動(dòng)向,用百年實(shí)力鑄就了光學(xué)企業(yè)界的價(jià)值標(biāo)桿!

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